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microscope à force atomique

Domaines
  1. nanotechnologie
  2. physique
Auteur
Office québécois de la langue française
Dernière mise à jour
2005
  • Accéder à la fiche en anglais : atomic force microscope
  • Accéder à la fiche en catalan : microscopi de forces atòmiques
  • Accéder à la fiche en espagnol : microcopio de fuerza atómica
  • Accéder à la fiche en italien : microscopio a forza atomica
  • Accéder à la fiche en portugais : microscópio de força atómica
  • Accéder à la fiche en roumain : microscop de forţă atomică

Définition :

Microscope en champ proche qui, à l'échelle des atomes et des molécules, permet d'obtenir l'image d'un échantillon en balayant sa surface à l'aide d'une sonde qui, placée à quelques nanomètres de celle-ci, capte les forces répulsives ou attractives des électrons, qu'on analyse pour mesurer les variations dimensionnelles de la structure et qu'on peut aussi utiliser pour manipuler des particules de matière.

Note :

Cette fiche fait partie du vocabulaire Réinventer le monde par la nanotechnologie.

Terme privilégié :

microscope à force atomique n. m.

Traductions

  • anglais

    Auteur : Office québécois de la langue française, 2005

    Termes :

    1. atomic force microscope
    2. AFM
    3. scanning force microscope
    4. SFM
  • catalan

    Auteur : Centre de terminologia Termcat, 2008

    Définition

    Microscopi de camp proper que permet obtenir la imatge d'una mostra amb resolució a escala nanomètrica en rastrejar-ne la superfície, a uns nanòmetres de distància, amb una sonda que capta les forces de repulsió o d'atracció dels electrons amb l'objectiu de mesurar les variacions dimensionals de l'estructura o manipular les partícules de matèria.

    Terme :

    1. microscopi de forces atòmiques n. m.
  • espagnol

    Auteurs : Grupo Argentino de Terminología, 2007
    Universidad Pontificia Comillas, 2007

    Définition

    Microscopio de barrido con sonda que genera la imagen con resolución atómica y molecular de una muestra no conductora o biológica a partir del registro de la deflexión de la sonda, producida por las fuerzas de repulsión o atracción de la nube electrónica entre la sonda y la superficie de la muestra, para obtener información acerca de su topografía o crear nuevas estructuras moviendo átomo por átomo.

    Termes :

    1. microcopio de fuerza atómica s. m.
    2. microscopio de fuerzas atómicas s. m.
    3. AFM s. m.
  • italien

    Auteur : Università di Bologna, 2008

    Définition

    Microscopio che permette di effettuare analisi non distruttive di superfici, con una risoluzione inferiore al nanometro; una sonda di dimensioni dell'ordine del micrometro esplora la superficie da analizzare, a contatto o a brevissima distanza da essa.

    Termes :

    1. microscopio a forza atomica s. m.
    2. AFM s. m.
    3. microscopio a scansione di forza s. m.
    4. microscopio a scansione di sonda s. m.
  • portugais

    Auteurs : Instituto de Linguística Teórica e Computacional, 2009
    Grupo de Estudos e Pesquisas em Terminologia – Universidade Federal de São Carlos, 2009

    Termes :

    1. microscópio de força atómica s. m. Portugal
    2. MFA s. m. Brésil
    3. microscópio de força atômica s. m. Brésil
    4. microscópio de varrimento de sensor s. m. Portugal
    5. AFM s. m.
  • roumain

    Auteur : Institutul de Lingvistică „Iorgu Iordan – Al. Rosetti”, 2007

    Définition

    Microscop care caracterizează suprafeţele din punctul de vedere al structurii/rugozitşţii până la nivelul de câteva straturi atomice. Caracterizarea se realizează cu un vârf de dimensiuni nanometrice. Se pot vizualiza /caracteriza suprafeţe 2D şi 3D.

    Terme :

    1. microscop de forţă atomică s. n.

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