microscopie à force atomique
- Domaines
-
- nanotechnologie
- physique
- Dernière mise à jour
Définition :
Microscopie en champ proche dans laquelle, à l'échelle des atomes et des molécules, on obtient l'image d'un échantillon en balayant sa surface à l'aide d'une sonde qui, placée à quelques nanomètres de celle-ci, capte les forces répulsives ou attractives des électrons, qu'on analyse pour mesurer les variations dimensionnelles de la structure et qu'on peut aussi utiliser pour manipuler des particules de matière.
Note :
Cette fiche fait partie du vocabulaire Réinventer le monde par la nanotechnologie.
Terme privilégié :
- microscopie à force atomique n. f.
Traductions
-
anglais
Auteur : Office québécois de la langue française,Termes :
- atomic force microscopy
- AFM
- scanning force microscopy
- SFM
-
catalan
Auteur : Centre de terminologia Termcat,Définition
Microscòpia de camp proper mitjançant la qual s'bté la imatge d'una mostra amb resolució a escala nanomètrica en rastrejar-ne la superfície, a uns nanòmetres de distància, amb una sonda que capta les forces de repulsió o d'atracció dels electrons amb l'objectiu de mesurar les variacions dimensionals de l'estructura o manipular les partícules de matèria.
Termes :
- microscòpia de forces atòmiques n. f.
- AFM n. f.
-
espagnol
Auteurs : Grupo Argentino de Terminología,
Universidad Pontificia Comillas,Définition
Microscopía de barrido con sonda que permite generar la imagen con resolución atómica y molecular de muestras no conductoras o biológicas a partir del registro de la deflexión de la sonda producida por las fuerzas de repulsión y atracción de la nube electrónica entre la sonda y la superficie de la muestra, para obtener información acerca de su topografía o crear nuevas estructuras moviendo átomo por átomo.
Terme :
- microscopía de fuerza atómica s. f.
-
italien
Auteur : Università di Bologna,Définition
Microscopia che permette di acquisire immagini di superfici con risoluzione dell'ordine del nanometro; il principio su cui si basa questa tecnica consiste nell'effettuare la scansione del campione per mezzo di una sonda meccanica costituita da una punta posta all'apice di una leva flessibile; per mezzo della deflessione della leva è possibile ricostruire la morfologia superficiale del campione.
Terme :
- microscopia a forza atomica s. f.
-
portugais
Auteurs : Instituto de Linguística Teórica e Computacional,
Grupo de Estudos e Pesquisas em Terminologia – Universidade Federal de São Carlos, -
roumain
Auteur : Institutul de Lingvistică „Iorgu Iordan – Al. Rosetti”,Définition
Tehnica de microscopie care asigura caracterizarea suprafetelor (rugozitate/structura) bazata pe fortele de atractie/respingere a electronilor la proximitatea de cativa nanometri a unui varf de dimensiuni nanometrice (de obicei <10nm.) care exploreaza suprafata. Este utilizabila si pentru tehnici avansate de nanolitografie (obtinerea de geometrii nanometrice pe suprafata).
Terme :
- microscopie de forţă atomică s. f.