spectrométrie de masse des ions secondaires
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Définition :
Technique de spectrométrie utilisée pour déterminer la nature d'un matériau, qui consiste à analyser à l'aide d'un spectromètre de masse les ions secondaires qui se forment à la surface d'un échantillon lorsqu'elle est bombardée d'ions primaires de même énergie.
Note :
Cette fiche fait partie du vocabulaire Réinventer le monde par la nanotechnologie.
Termes privilégiés :
- spectrométrie de masse des ions secondaires n. f.
- spectrométrie de masse d'ions secondaires n. f.
- spectrométrie de masse à ionisation secondaire n. f.
- spectrométrie SIMS n. f.
-
Tous ces syntagmes peuvent aussi être formés à partir de spectroscopie au lieu de spectrométrie.
Traductions
-
anglais
Auteur : Office québécois de la langue française,Termes :
- secondary-ion mass spectrometry
- SIMS
- secondary-ion mass spectroscopy
-
catalan
Auteur : Centre de terminologia Termcat,Termes :
- espectrometria de masses d'ions secundaris n. f.
- SIMS n. f.
-
espagnol
Auteurs : Grupo Argentino de Terminología,
Universidad Pontificia Comillas,Définition
Técnica de espectroscopia utilizada para caracterizar materiales que se vale de un espectrómetro de masa para detectar partículas atómicas y moleculares secundarias ionizadas emitidas por un material al ser bombardeado con partículas energéticas primarias.
Note :
Es una técnica destructiva pero se requiere un pequeño volumen de material para el análisis.
Termes :
-
italien
Auteur : Scuola Superiore di Lingue Moderne per Interpreti e Traduttori - Forlì, Università di Bologna,Définition
Tecnica di spettrometria che consente la determinazione di elementi presenti in matrici solide bombardando il campione con un fascio di ioni primari ed analizzando gli ioni secondari prodotti dal bombardamento.
Termes :
- spettrometria di massa di ioni secondari s. f.
- spettrometria di massa degli ioni secondari s. f.
- spettrometria di massa a ioni secondari s. f.
- spettrometria SIMS s. f.
- spettroscopia di massa di ioni secondari s. f.
- spettroscopia di massa a ioni secondari s. f.
- spettroscopia SIMS s. f.
-
portugais
Auteurs : Instituto de Linguística Teórica e Computacional,
Grupo de Estudos e Pesquisas em Terminologia – Universidade Federal de São Carlos, -
roumain
Auteur : Institutul de Lingvistică „Iorgu Iordan – Al. Rosetti”,Définition
Tehnică de spectrometrie utilizată pentru determinarea naturii unui material care constă în măsurarea cu ajutorul unui spectrometru de masă a ionilor secundari emişi la suprafaţa unui eşantion de materie atunci când aceasta este bombardată de ioni primari de aceeaşi energie.
Termes :
- spectrometrie de masă cu ioni secundari s. f.
- spectrometrie SIMS s. f.
- spectroscopie de masă cu ioni secundari s. f.
- spectroscopie SIMS s. f.