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spectrométrie de masse des ions secondaires

Domaines
  1. physiquemétrologie
  2. physiquespectroscopie
  3. nanotechnologie
Auteur
Office québécois de la langue française
Dernière mise à jour
2009
  • Accéder à la fiche en anglais : secondary-ion mass spectrometry
  • Accéder à la fiche en catalan : espectrometria de masses d'ions secundaris
  • Accéder à la fiche en espagnol : espectrometría de masas de iones secundarios
  • Accéder à la fiche en italien : spettrometria di massa di ioni secondari
  • Accéder à la fiche en portugais : SIMS
  • Accéder à la fiche en roumain : spectrometrie de masă cu ioni secundari

Définition :

Technique de spectrométrie utilisée pour déterminer la nature d'un matériau, qui consiste à analyser à l'aide d'un spectromètre de masse les ions secondaires qui se forment à la surface d'un échantillon lorsqu'elle est bombardée d'ions primaires de même énergie.

Note :

Cette fiche fait partie du vocabulaire Réinventer le monde par la nanotechnologie.

Termes privilégiés :

spectrométrie de masse des ions secondaires n. f.
spectrométrie de masse d'ions secondaires n. f.
spectrométrie de masse à ionisation secondaire n. f.
spectrométrie SIMS n. f.

Tous ces syntagmes peuvent aussi être formés à partir de spectroscopie au lieu de spectrométrie.

Traductions

  • anglais

    Auteur : Office québécois de la langue française, 2008

    Termes :

    1. secondary-ion mass spectrometry
    2. SIMS
    3. secondary-ion mass spectroscopy
  • catalan

    Auteur : Centre de terminologia Termcat, 2012

    Termes :

    1. espectrometria de masses d'ions secundaris n. f.
    2. SIMS n. f.
  • espagnol

    Auteurs : Grupo Argentino de Terminología, 2011
    Universidad Pontificia Comillas, 2011

    Définition

    Técnica de espectroscopia utilizada para caracterizar materiales que se vale de un espectrómetro de masa para detectar partículas atómicas y moleculares secundarias ionizadas emitidas por un material al ser bombardeado con partículas energéticas primarias.

    Note :

    Es una técnica destructiva pero se requiere un pequeño volumen de material para el análisis.

    Termes :

    1. espectrometría de masas de iones secundarios s. f.
    2. espectroscopia de masas de iones secundarios s. f. Argentine
    3. SIMS s. f. Espagne
  • italien

    Auteur : Scuola Superiore di Lingue Moderne per Interpreti e Traduttori - Forlì, Università di Bologna, 2011

    Définition

    Tecnica di spettrometria che consente la determinazione di elementi presenti in matrici solide bombardando il campione con un fascio di ioni primari ed analizzando gli ioni secondari prodotti dal bombardamento.

    Termes :

    1. spettrometria di massa di ioni secondari s. f.
    2. spettrometria di massa degli ioni secondari s. f.
    3. spettrometria di massa a ioni secondari s. f.
    4. spettrometria SIMS s. f.
    5. spettroscopia di massa di ioni secondari s. f.
    6. spettroscopia di massa a ioni secondari s. f.
    7. spettroscopia SIMS s. f.
  • portugais

    Auteurs : Instituto de Linguística Teórica e Computacional, 2011
    Grupo de Estudos e Pesquisas em Terminologia – Universidade Federal de São Carlos, 2011

    Termes :

    1. SIMS s. f.
    2. espectrometria de massa de iões secundários s. f. Portugal
    3. espectroscopia de massa de iões secundários s. f. Portugal
    4. espectrometria de massa por ionização secundária s. f. Portugal
    5. espectroscopia de massa por ionização secundária s. f. Portugal
  • roumain

    Auteur : Institutul de Lingvistică „Iorgu Iordan – Al. Rosetti”, 2011

    Définition

    Tehnică de spectrometrie utilizată pentru determinarea naturii unui material care constă în măsurarea cu ajutorul unui spectrometru de masă a ionilor secundari emişi la suprafaţa unui eşantion de materie atunci când aceasta este bombardată de ioni primari de aceeaşi energie.

    Termes :

    1. spectrometrie de masă cu ioni secundari s. f.
    2. spectrometrie SIMS s. f.
    3. spectroscopie de masă cu ioni secundari s. f.
    4. spectroscopie SIMS s. f.

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